YDJ系列工頻耐壓測試儀是供電企業(yè)、大型工廠、冶金、發(fā)電廠、鐵路等需要電力維修部門的*設(shè)備。采用*的微電子處理技術(shù)，全部使用過程可提前進(jìn)行設(shè)置，全中文界面，操作簡單明了。全部測試項(xiàng)目設(shè)定后自動進(jìn)行測試，無須人工干預(yù)。

1.1 工作原理：
本系列為單相變壓器，經(jīng)操作箱（臺）內(nèi)調(diào)壓器（100KVA以上調(diào)壓器外附）輸出可調(diào)的0~200V或0~400V電壓至的初級繞組，根據(jù)電磁感應(yīng)原理，在次級繞組可獲得可調(diào)的高電壓。單臺工作接線原理見附圖一；高壓套管中裝有高壓硅堆，串接在高壓回路中作半波整流。當(dāng)短路桿將高壓硅堆短接時，輸出的高壓為工頻交流。擰出短路桿時輸出的高壓為直流。
工頻耐壓測試儀規(guī)格型號齊全可兩臺或三臺工頻交流耐壓儀串級獲得更高電壓。串級使用接線原理見附圖二。串級高壓有很大的*性，因?yàn)檎麄€裝置由幾臺單臺組成，單臺體積小、重量輕，便于運(yùn)輸和安裝。它既可串接成高出幾倍單臺的額定電壓輸出而組合使用，又可分開成幾套單臺單獨(dú)使用。附圖二中，在 級和第二級的每個單臺中都有一勵磁繞組A1、C1和A2、C2。低壓電源加在I的初級繞組a1x1上，單臺工頻耐壓儀I、II、III的輸出電壓分別是V1、V2、V3、。勵磁繞組A1、C1給第二級的初級繞組供電；第二級II的勵磁繞組A2、C2給第三級III的初級繞組供電。第二級II和第三級III的箱體對地分別在V1和V1+V2的高電位上，箱體對地是絕緣的，工頻交流耐壓儀I的箱體接地。所以 級、第二級、第三級對地電壓分別為V1、V1+V2、V1+V2+V3，其額定容量則分別為3P、2P、1P。

1.2容量選擇
標(biāo)稱容量Pn的確定公式：Pn=KVn2ωCt×10-9
式中：Pn--標(biāo)稱置容量（KVA）
Vn--的額定輸出高壓的有效值（KV）
K--安全系數(shù)。K≥1，標(biāo)稱電壓Vn≥1MV時，K=2，標(biāo)稱電壓較低時，K值可取高一些。
Ct--被試品的電容量（PF）
ω--角頻率，ω=2πf，f--試驗(yàn)電源的頻率
被試設(shè)備的電容量Ct可由交流電橋測出。Ct的變化很大，可由設(shè)備的類型而定。典型數(shù)據(jù)如下：

簡單的棒式或懸式絕緣子            幾十微法

簡單的分級套管                      100~1000pF

電壓互感器                              200~500pF

電力變壓器＜1000kVA              ~1000pF

                ＞1000kVA              1000~10000pF

高壓電力電纜和油浸紙絕緣          250~300PF/m

氣體絕緣                                    ~60pF/m

封閉變電站，SF6氣體絕緣           100~10000pF

工頻耐壓測試儀規(guī)格型號齊全對于不同的試驗(yàn)電壓Vn，選擇不同的（適當(dāng)?shù)模┌踩禂?shù)K。以下列出不同的Vn所選用的K值供參考

Vn=50~100KV                               K=4

Vn=150~300KV                             K=3

Vn＞300KV                                    K=2

操作及控制系統(tǒng)

2.1 概述
本系列是根據(jù)工頻耐壓試驗(yàn)裝置的試驗(yàn)保護(hù)要求而設(shè)計制造的。分為手動箱式、臺式及電動臺式等結(jié)構(gòu)形式。具有零位保護(hù)，過流過壓保護(hù)，聲光報警等功能，體積小、重量輕、外形美觀、操作簡便，是高壓配套的理想設(shè)備。
2.2 產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
2.2.1 箱式結(jié)構(gòu)
箱式結(jié)構(gòu)分為內(nèi)框架和外箱體兩大部分，內(nèi)框架將所有電氣材料和面板合為一體，外殼為防護(hù)式，便于維護(hù)。
2.3 工作原理：
本系列產(chǎn)品由控制和測量兩部分組成。主接觸器控制調(diào)壓器輸入的通電和斷電，主接觸器的分合由合閘停止按鈕、零位限位開關(guān)、過流過壓繼電器等回路控制。由調(diào)壓器提供可調(diào)節(jié)的輸出電壓，供給配套產(chǎn)品（如工頻耐壓試驗(yàn)裝置），以獲取所需的測試電壓。